Nanotom M

Phoenix Nanotom® M 是一款用于科学和工业计算机断层扫描（microCT 和 nanoCT®）和 3D 计量的纳米聚焦 X 射线 CT 系统。 该系统在广泛的样品及应用范围内实现了独特的空间性及对比分辨率。 全自动执行 CT 扫描、重建和分析过程，确保其易于使用，并快速提供可靠的 CT 结果。 可对复杂物体进行精确和可重复的 3D 测量，并在一小时内自动生成首件检验报告。

高分辨率计算机断层扫描 (CT) 已成为一种强大的检测工具，广泛应用于工业和科学检测以及计量应用，比如结构和故障的无损分析以及质量保证或生产控制。
Phoenix Nanotom® M 拥有 180 kV/20 W 超高性能纳米聚焦 X 射线管、精密机械和先进的软件模块，是适用于各种 3D CT 应用的检测解决方案。 扫描完成后，全三维 CT 信息可帮助实现多种分析，例如切片的无损可视化、任意剖面视图或自动孔隙分析。

优势：

• 适用于各种样品（从小尺寸材料到中型塑料样品）的独特空间和对比度分辨率

• 同样适用于直径达 240 mm、高度达 250 mm、重量达 3 kg（6.6 磅）的电子器件组件

• 优化后的 3D 计量软件包可实现稳定的采集条件，在数分钟内快速重建，测量结果具有可重复性

• 先进的系统设计和 Phoenix Datos|x CT 软件提高了便利性

Phoenix Nanotom® M 满足了实现极高准确性和再现性 CT 的所有基本条件：