V|tome|x M Neo

V|tome|x M Neo

V|tome|x M Neo 计算机断层扫描解决方案在灵活性、速度和检测质量方面树立了新的标准，使其成为各行各业广泛的三维计量和分析应用的最终选择，适用于 ø500 mm x 700 mm 和 75 kg 以下的零件。

这款高生产率双管扫描仪配备 300 kV Microfocus 和可选 180 kV Nanofocus X 射线管，以前所未有的速度和尽可能高的精度提供改进的操纵器概念和电动聚焦-探测器-距离（FDD）调整，帮助您显著优化实验室研究成果和生产质量流程，以满足当前和未来不断增长的需求。

使用 Microfocus X 射线管，可观察到 1 µm 的微米；使用 Nanofocus X 射线管，可观察到 200 nm 的纳米。

先进的 3D 分析工业 CT 从这里开始

系统专为三维测量和分析而设计，在 300 kV 的电压下提供业界领先的放大率。Phoenix V|tome|x M Neo 采用了多种独有的高性能探测器和专有的先进 CT 技术，这些技术彻底改变了 CT 检测和三维计量技术--在不影响图像质量和测量精度的情况下，提供更快的扫描速度和更高的吞吐量。

以卓越性能推动成像和分析技术发展

Phoenix V®tome®x M Neo 是新一代工业 CT 系统，以广泛使用的 Phoenix V®tome®x 平台为基础，该平台已在全球安装了一千多台设备。它具有多项重大进步，包括成像效果更佳、扫描面积更大（适用于更大、更重的样品）、可变焦距探测器以及新型机柜设计，从而提高了灵活性和可访问性。

Phoenix V|tome|x M Neo 是一款多功能系统，适用于实验室环境中的各种三维计量、研究和评估应用。此外，它的自动化功能使其非常适合在生产环境中进行精密测试，为工业应用提供可靠的结果。

性能特点：

X射线管：开放式高功率微焦 X 射线管，配有封闭式冷却水回路。可选配额外的开放式传输高功率水冷纳米聚焦 X 射线管 水平双管方向可改善图像采集效果

最大电压/功率：也可选配 240 kV / 320 W 微焦 X 射线管。nanoCT® 的双管选项：附加 180 kV / 20 W 高功率纳米聚焦管，带钻石窗口，高精度旋转装置，

                         只需按下按钮即可轻松更换管子

几何放大（3D）：1.29 x 至 100 x；使用纳米聚焦 X 射线管时，可达 225 x

细节检测能力：小至 < 1 μm（微焦管）；可选小至 0.2 μm（纳焦 X 射线管）

最小体素尺寸：小至 2 μm（微焦），可选 1 μm（动态 41|100）；可选小至 <0.5 μm（纳焦 + 动态 41|100）。

探测器类型：温度稳定的动态 41 |200 大面积检测器可提供卓越的图像和结果质量，410 x 410 毫米（16 英寸 x 16 英寸），200 μm 像素尺寸，

                    2036 x 2036 像素（4 MP），超高动态范围 > 10000:1。可选动态 41 |100 检测器 410 x 410 毫米（16 英寸 x 16 英寸），

                    100 μm 像素尺寸，4048 x 4048 像素（16 MP），CT 分辨率加倍

操纵：基于花岗岩的精密 6 轴机械手

可变对焦-检测器-距离：可选 310 毫米 - 900 毫米（12.2 英寸 - 35.4 英寸）

最大样品直径 x 高度：高度为 310 毫米 x 700 毫米（12.2 英寸 x 27.5 英寸）；使用偏置扫描时，直径可达 500 毫米（19.7 英寸）。

最大样品重量：75 公斤（165 磅），高精度 CT

最大对焦距离：微焦管应用 700 毫米（27.55 英寸）

系统尺寸 宽 x 高 x 深：约 2,911 毫米 x 2,177 毫米 x 1,710 毫米（114.6 英寸 x 85.7 英寸 x 67.3 英寸）

系统重量：约 9,500 千克（20,940 磅）

可选 Click&measure|CT：包括

软件：Phoenix Datos|x 三维计算机断层扫描采集和重建软件。可根据要求提供用于三维计量、故障或结构分析的不同三维评估软件包。

效率驱动的自动化

利用 X|approver 软件实现自动缺陷识别 (ADR) 工作流程

利用最新的 Datos|x 软件全面控制数据采集，加快数据重建速度

高性能微聚焦（300 kV / 500 W）和纳米聚焦（180 kV / 20 W）X 射线管可实现最佳分辨率和速度

独有的动态 41 探测器，灵敏度比最先进的 DXR 探测器高 10 倍，CT 扫描速度提高 2-3 倍，分辨率提高一倍

专有的高通量目标可在更小的焦斑上实现更高的功率，从而将扫描时间缩短一半

精密计量