Crossbeam系列

专为高通量3D分析和样品制备量身打造的FIB-SEM

蔡司Crossbeam将场发射扫描电子显微镜（FE-SEM）镜筒的强大成像和分析性能与新一代聚焦离子束（FIB）的优异加工能力相结合。

无论是切割、成像或进行3D分析，Crossbeam系列都能极大地提升您的应用体验。使用Gemini电子光学系统，您可以从扫描电子显微镜（SEM）图像中获取真实的样品信息。Ion-sculptor FIB镜筒引入了全新的FIB加工方法，能够减少样品损伤，提升样品质量，从而加快实验进程。通过为您量身定制的仪器，实现高质量和高通量的TEM薄片样品制备。您可以充分利用Crossbeam 350的可变压力功能。选择更适配样品的样品仓尺寸，用Crossbeam 550 对您要求严苛的样品进行制备。或是选择Crossbeam 550 Samplefab 进行先进的全自动、无人值守多区域TEM薄片制备。无论是用于科研机构还是工业实验室，单用户实验室或多用户实验平台，如果您想获得高质量、高影响力的实验结果，蔡司Crossbeam的模块化平台设计可让您根据自身需求的变化，随时对仪器系统进行升级